從簡單的3D光學(xué)表面分析系統(tǒng)開始
Polytec 的 TopMap Metro.Lab 是一種高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），具有大的垂直范圍和納米分辨率。這意味著 Metro.Lab 外形測量系統(tǒng)非常適合非接觸式測量大面積表面和結(jié)構(gòu)，甚至是柔軟和精密材料的平面度、臺階高度和平行度。
作為一個完整的測量站，TopMap Metro.Lab 是您想要測量幾乎所有表面上的大面積外形的最佳解決方案。即使在困難條件下，70mm 的大垂直測量范圍也允許您使用亞納米分辨率進(jìn)行測量。
由于 TopMap Metro.Lab 物超所值，無論是用于計量實驗室或是靠近生產(chǎn)現(xiàn)場的地方，都非常具有吸引力。它可以處理許多您以前使用觸覺系統(tǒng)進(jìn)行處理的任務(wù)。與所有 TopMap 系統(tǒng)一樣，開放式的軟件架構(gòu)還允許您編制常規(guī)任務(wù)或設(shè)置自己的用戶界面。

亮點
1.由于光學(xué)干涉測量原理，它屬于非接觸式
2.遠(yuǎn)心鏡頭讓測量陡峭部分（例如鉆孔）成為可能
3.70 mm 的范圍，非常靈活
4.快速測量大面積
5.增強版的大面積測量范圍可達(dá)約 80 x 80 毫米
6.易于使用的自動化軟件，生成 DIN / ISO 合規(guī)性參數(shù)
7.具有智能表面掃描功能，適用于幾乎所有表面，即使是那些具有參差不齊反射率的表面
8.可集成在防塵防振工作站中，用于機器大廳

由于TopMap Metro.Lab具有極高的性價比，因此在從計量實驗室到接近生產(chǎn)的所有地點使用時都特別有吸引力。TopMap Metro.Lab允許比傳統(tǒng)的觸覺測量法更全面的表面分析。與所有TopMap系統(tǒng)一樣，開放的軟件架構(gòu)也使您能夠?qū)ΤＲ?guī)任務(wù)進(jìn)行編程或設(shè)置您自己的用戶界面。