Polytec 是世界上納米精度級(jí)大面積光學(xué)地形測(cè)量技術(shù)的領(lǐng)先者。這項(xiàng)技術(shù)的主要任務(wù)是確定平行度、平面度、半徑、臺(tái)階、角度以及其他參數(shù)。待檢查區(qū)域通常位于下層孔中，或是在高度方面有很大不同。但與其他光學(xué)測(cè)量方法（如相干干涉法）相比，這對(duì)于 Polytec 系統(tǒng)來(lái)說(shuō)是一項(xiàng)簡(jiǎn)單的任務(wù)。而彥辰商貿(mào)自然進(jìn)行了相關(guān)資源的緊密合作，并可根據(jù)您的需求，進(jìn)行相關(guān)配合工作！

TopMap family 新維度中的表面計(jì)量

精密表面的質(zhì)量檢查

為了表征精密制造和其他復(fù)雜表面，它需要可靠的測(cè)量技術(shù)、快速、面向應(yīng)用。
早期保證功能和檢測(cè)缺陷可避免不必要的成本，并提高整體產(chǎn)品質(zhì)量和使用壽命。
Polytec 表面計(jì)量應(yīng)用具有創(chuàng)新、高精度、非接觸式光學(xué)適用于粗糙、光滑和有臺(tái)階的表面的技術(shù)。
TopMap 系列的白光干涉儀是專為控制實(shí)驗(yàn)室、生產(chǎn)環(huán)境或在線使用而設(shè)計(jì)的質(zhì)量檢測(cè)工具。

具有緊密公差的結(jié)構(gòu)化功能表面需要高精度測(cè)量系統(tǒng)，可以快速掃描工件的形貌。
完善的白光干涉測(cè)量在納米尺度上實(shí)現(xiàn)了分辨率。

廣泛的應(yīng)用
Polytec 的Top Map 表面測(cè)量系統(tǒng)在所有需要檢測(cè)最細(xì)致的部件和結(jié)構(gòu)的操作中都在其應(yīng)用范圍。
非接觸式白光干涉測(cè)量允許在納米或者亞納米范圍內(nèi)進(jìn)行分辨率測(cè)量。
正是由于這個(gè)原因，Polytec 的TopMap 設(shè)備已經(jīng)成為工業(yè)質(zhì)量控制領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)工具。

快速檢查制造公差
具有較大的垂直范圍和納米分辨率，Polytec 的TopMap 系統(tǒng)是確定各種材料的大表面和結(jié)構(gòu)的平整度、臺(tái)階高度和平行度的理想系統(tǒng)。

TopMap Metro.Lab 緊湊的3D 工作站
Polytec 生產(chǎn)的The TMS-150 TopMapMetro.Lab 是一種高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），具有較大的垂直測(cè)量范圍。TopMapMetro.Lab 用于實(shí)驗(yàn)室。非常適合于平面度、臺(tái)階高度和平行度的非接觸測(cè)量大的表面和結(jié)構(gòu)，甚至可用于柔軟或細(xì)膩的材料上。
白光干涉測(cè)量的入門級(jí)作為一個(gè)完整而緊湊的三維測(cè)量工作站，TopMap Metro.Lab 允許用戶執(zhí)行大表面和
納米分辨率的測(cè)量。
受益于一個(gè)開(kāi)放的軟件架構(gòu)來(lái)編程常規(guī)任務(wù)或設(shè)置您自己的用戶界面。

TopMap In.Line 用于生產(chǎn)一體化

TMS-350 TopMap In.Line 完全適合生產(chǎn)中質(zhì)量保證的需要，當(dāng)循環(huán)時(shí)間是決定性的，表面必須精確測(cè)量，沒(méi)有接觸的高速。
生產(chǎn)線快速表征TopMap In.Line 的緊湊設(shè)計(jì)，意味著它可以優(yōu)雅和安全地集成到生產(chǎn)線上。由于不需要接觸物體，避免了光學(xué)或部件表面的碰撞和損壞。系統(tǒng)測(cè)量形位偏差，如平面度或波紋度，
可靠和短周期時(shí)間。由于遠(yuǎn)心光學(xué)設(shè)計(jì)，即使在深孔與陡峭的邊緣，它可以從一個(gè)安全的工作距離無(wú)接觸地精確測(cè)量臺(tái)階高度。
可自由編程的測(cè)量和分析軟件可以很容易地適應(yīng)用戶的生產(chǎn)工作流程的需要。測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)出到用戶數(shù)據(jù)庫(kù)，集成的QS-STAT?導(dǎo)出使用戶能夠可靠地分析過(guò)程數(shù)據(jù)。

TopMap Micro.View® 臺(tái)式光學(xué)表面輪廓

TopMap Micro.View® 是一種易于使用和緊湊的光學(xué)輪廓儀。將卓越的性能和可負(fù)擔(dān)性與這種強(qiáng)大的計(jì)量解決方案相結(jié)合。擴(kuò)展的100毫米Z測(cè)量范圍與CST連續(xù)掃描技術(shù)允許復(fù)雜的拓?fù)湫蚊矞y(cè)量在nm分辨率。這種方便的臺(tái)式設(shè)置功能集成電子，智能聚焦點(diǎn)查找器簡(jiǎn)化和加快了測(cè)量過(guò)程。
小足跡，擴(kuò)展能力
受益于可選的ECT 環(huán)境補(bǔ)償技術(shù)，確?？煽亢蜏?zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，即使在嘈雜和具有挑戰(zhàn)性的生產(chǎn)環(huán)境。微型。Micro.View® 是在制造和研究領(lǐng)域中用于檢測(cè)精密工程表面的成本-效率-質(zhì)量控制的儀器。

TopMap Micro.View®+下一代光學(xué)表面輪廓

TopMap Micro.View®+ 是下一代光學(xué)表面輪廓儀。該組合式工作站為模塊化設(shè)計(jì)，可用戶定制和應(yīng)用于特定的配置。
Micro.View®+ 提供最詳細(xì)的分析表面粗糙度，紋理和微觀結(jié)構(gòu)形貌。將三維數(shù)據(jù)與顏色信息結(jié)合起來(lái)，進(jìn)行驚人的可視化和擴(kuò)展的分析，就像缺陷的詳細(xì)文檔一樣。高分辨率的5 百萬(wàn)像素像機(jī)提供了難以置信的詳細(xì)的三維數(shù)據(jù)可視化工程表面。
能用于自動(dòng)化和生產(chǎn)準(zhǔn)備
編碼和鏡頭旋轉(zhuǎn)裝置確保了鏡頭之間的無(wú)縫過(guò)渡。Micro.View®+ 還具有最新的聚焦點(diǎn)查找器加焦點(diǎn)跟蹤器，保持表面在任何情況下的焦點(diǎn)。完全機(jī)動(dòng)的樣品定位階段允許縫合和自動(dòng)定位。

TopMap Pro.Surf 表面專家

The TMS-500TopMap Pro.Surf 快速、可靠、準(zhǔn)確地確定形狀偏差。TopMap Pro.Surf 白光干涉儀是精確制造表面的非接觸表面形貌測(cè)量的理想解決方案-?？捎糜谟?jì)量實(shí)驗(yàn)室、生產(chǎn)線附近，甚至在線，由于堅(jiān)固的設(shè)計(jì)和高水平重復(fù)性。
用于精密制造表面的可靠檢查
其高的垂直和橫向分辨率、遠(yuǎn)心光學(xué)設(shè)計(jì)和高的測(cè)量速度開(kāi)辟了許多應(yīng)用領(lǐng)域。在一個(gè)大的44x33mm2 測(cè)量表面上測(cè)取200 萬(wàn)個(gè)測(cè)量點(diǎn)，在幾秒鐘內(nèi)無(wú)需縫合-而且表面積甚至可以擴(kuò)展到230x220mm2。
具有70 毫米的垂直測(cè)量范圍和良好的垂直分辨率，有足夠的余地來(lái)改變測(cè)量任務(wù)。遠(yuǎn)程中心光學(xué)甚至測(cè)量難以到達(dá)的區(qū)域，如：深孔。集成的機(jī)器視覺(jué)工具加快了您的質(zhì)量控制過(guò)程。同時(shí)檢測(cè)幾個(gè)樣品，而不需要機(jī)械固定。

TopMap Pro.Surf+一體系統(tǒng)

The TMS-500-R TopMap Pro.Surf+方便地確定在一個(gè)單一系統(tǒng)中形成偏差和粗糙度-快速、可靠和精確。
高端系統(tǒng)TopMap Pro.Surf 的升級(jí)是一個(gè)一體的解決方案-感謝集成的粗糙度傳感器。
組合測(cè)量形式偏差加粗糙度
TopMap Pro.Surf+ 提供了一種強(qiáng)大的多傳感器解決方案，通過(guò)精確地確定表面臺(tái)階高度、平行度和粗糙度參數(shù)等形位參數(shù)來(lái)表征表面形貌。除了它的智能多傳感器概念，用戶將受益于高垂直和橫向分辨率的儀器，從其遠(yuǎn)心光
學(xué)設(shè)計(jì)和非?？焖俚臏y(cè)量。兩百萬(wàn)個(gè)測(cè)量點(diǎn)記錄在一個(gè)大的43×32mm2測(cè)量表面上，在幾秒鐘內(nèi)不需要縫合-而且表面積甚至可以擴(kuò)展到230×220mm2。
集成的機(jī)器視覺(jué)工具加快了您的質(zhì)量控制過(guò)程。用單個(gè)測(cè)量檢測(cè)幾個(gè)樣品，而不需要機(jī)械固定。

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